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出厂前性能优化程序(PMO)

作者:开步电子     发表日期:2018-03-27 11:10:49

出厂前性能优化(PMOs)是唯一适用于箔电阻技术的稳定性改良工艺, 老化了箔电阻的电阻基材,绑定材料,氧化铝陶瓷基板和封装。这些性能优化程序包括:

       温度循环/热冲击

       短时过载/负载寿命加速

       功率训练

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温度循环

温度循环在芯片生产的所有阶段完成,将消除任何由于温度冲击带来的后遗症。温度循环不会对绑定层的强度产生影响,在PMO程序的允许范围内阻值精度会受到很小的影响。


短时过载(负载寿命加速)

短时过载即电路里发生瞬时脉冲的时候有可能导致电路的损坏, 在生产过程中对所有电阻做短时过载实验可以消除电阻可能存在的热点。


功率训练

标准的箔电阻的寿命曲线表明了其变化主要发生在使用的前几百个小时以内,在250-500个小时以后箔电阻将趋于稳定,如图1所示。功率训练完成了指定时间段的工作,消除了前几百个小时的变化活跃期,交货的电阻将是图中曲线较为平坦的部分。功率训练是一个方案性程序,需要客户的设计团队和我们沟通需要预期达到的目标。
其他的电阻技术是否可以进行PMO程序?


当应用同样的PMO程序在厚膜,薄膜或者线绕电阻时,和箔电阻会有很大的不同,这些PMO程序操作会对箔电阻以外的其他电阻带来危害,并且可能导致电阻损坏。PMO程序只适用于箔电阻,并且是需要提升标准产品性能的时候。


更多的有关PMO程序的信息请和我们的应用工程部门取得联络      邮箱:zhengmin@cbeureka.com;电话:0755-82891001